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公司基本資料信息
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Solar Cell Scan100 主要技術(shù)指標(biāo)
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項(xiàng) 目 |
指標(biāo)和說明 |
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150W氙燈 |
光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%,可工作在斬波模式(適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池)與連續(xù)模式(適合慢響應(yīng)染料敏化電池,有機(jī)太陽能電池) |
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測(cè)試光斑尺寸 |
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三光柵DSP掃描單色儀 |
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波長(zhǎng)范圍 |
300nm~2000nm |
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波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 |
a) ±0.3nm( |
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掃描間隔 |
最小可至0.1nm |
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輸出波長(zhǎng)帶寬 |
<5 nm |
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多級(jí)光譜濾除裝置 |
根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換,消除多級(jí)光譜的影響 |
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光調(diào)制頻率 |
4 - 400 Hz |
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標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸 |
164mmx |
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標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器 |
含校正報(bào)告 |
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偏置光源 |
光強(qiáng)可調(diào),最高可大于1個(gè)太陽常數(shù)(需選配) |
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樣品最大尺寸 |
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數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度 |
a) 斬波模式:2nV;b) 連續(xù)模式:100nA |
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測(cè)量重復(fù)精度 |
對(duì)太陽光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi) |
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測(cè)試周期 |
單次掃描<1min,完整測(cè)試<5min (步長(zhǎng)5nm) |
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反射率測(cè)量 |
鏡面反射 300-1100nm(需選配);漫反射 300-1600nm(需選配) |
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溫度控制 |
恒溫控制:25± |
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3D Mapping |
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儀器尺寸 |
主機(jī): |
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Solar Cell Scan 100選購件列表 |
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型 號(hào) |
說 明 |
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QE-A1 偏置光源附件 |
150W 高穩(wěn)定氙燈,平行光路含濾光片支架,光穩(wěn)定度≦0.8% |
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QE-C1 鏡面反射率測(cè)試附件 |
含Si探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍300-1100nm |
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QE-C2 漫反射率測(cè)試附件 |
含漫反射測(cè)量積分球,Si & InGaAs探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍300-1600nm |
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QE-D1 二維電動(dòng)樣品臺(tái) |
XY 二維電移臺(tái)及控制驅(qū)動(dòng) |
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QE-F1 真空吸附樣品臺(tái) |
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QE-F2 恒溫樣品臺(tái) |
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QE-F3 變溫樣品臺(tái) |
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